金融界2024年3月26日消息，据国家知识产权局公告，长鑫存储技术有限公司申请一项名为“测试电路、测试方法及测试设备“，公开号CN117761483A，申请日期为2022年9月。

专利摘要显示，本公开提供了一种测试电路、测试方法及测试设备，涉及半导体技术领域，所述测试电路包括环形振荡电路和若干个测试单元；所述环形振荡电路包括依次级联并形成环形回路的多个逻辑门单元；所述测试单元包括第一晶体管、第二晶体管、第一延迟电路以及第二延迟电路，第一延迟电路和第二延迟电路的输入端与所述测试单元对应的逻辑门单元的输入端连接，第一延迟电路的有效电平的维持时长大于第二延迟电路的有效电平的维持时长；第一晶体管的栅极与第一延迟电路的输出端连接，源极与第一测试端连接，漏极与第二晶体管的漏极连接；第二晶体管的栅极与第二延迟电路的输出端连接，源极与第二测试端连接。本公开可以准确测量出测试单元中晶体管的驱动电流。

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